作者:方文潮 单位:中国电子质量管理协会;信产部第五研究所 出版:《电子质量》2017年第06期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZZN2017060330 DOC编号:DOCDZZN2017060339 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《弱磁探测技术发展现状》PDF+DOC2011年第04期 陈正想,卢俊杰 《基于V/I转换电路与锁相放大器的磁阻抗测量系统》PDF+DOC2016年第10期 樊天麒,刘岩,雷冲,周勇 《一种小型弱磁矢量检测系统》PDF+DOC2015年第11期 郑胜,徐校明,罗志会,潘礼庆,刘亚 《基于磁场分量波形分析的地下电缆弱磁探测技术》PDF+DOC2020年第06期 黄烜城,王威,吕泽鹏,孟永鹏,袁超,封建宝 《一种反馈式自平衡弱磁传感器设计》PDF+DOC2018年第05期 周治良,王盈,袁彦许 《梳妆(写字)台自动亮灯电路》PDF+DOC1999年第05期 费树雁 《电吉它“哇”音踏板》PDF+DOC 魏福立 《元器件文摘卡》PDF+DOC1995年第01期 《一种基于弱磁探测的转速测量方法》PDF+DOC2003年第03期 李朝晖,张河 《脉冲频率监测仪》PDF+DOC2003年第12期 吴小美
  • 集成电路失效/缺陷分析是可靠性分析的重要手段,目前的分析技术不能满足亚微米级集成电路无损分析需求。该文提出一种解决方案,利用弱磁探测技术无损绘制内部3维线路图和电流密度分布图,从而判断制作工艺是否存在缺陷,或者集成电路是否失效。被检测后的集成电路可以继续使用,这对于超高可靠性要求的使用场合尤为重要。文中还叙述了系统的工作原理,主要部分的结构及电路原理。

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