《利用对称结构和结合差分进化的文化算法检测阵列中的故障传感器(英文)》PDF+DOC
作者:Shafqat Ullah KHAN,Ijaz Mansoor QURESHI,Fawad ZAMAN,Wasim KHAN
单位:中国工程院;浙江大学
出版:《Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering》2017年第02期
页数:12页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJZUS2017020060
DOC编号:DOCJZUS2017020069
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本文解决了从N个传感器组成的线性阵列中检测完全或部分缺陷传感器的问题。本文首先提出了一种线性阵列的对称结构,其次,基于结合差分进化的文化算法,建立了一种混合技术。对称结构具有两个优点:(1)不需要找到所有损坏的模式,仅需找到(N–1)/2个必需模式;(2)不需要扫描0°;到180°;区域,仅需扫描0°;到90°;区域。显然,这样可以减少计算的复杂度。通过Monte Carlo模拟对该方案性能进行了验证,并在计算时间和均方误差方面与现有方法进行了比较。
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