作者:Shafqat Ullah KHAN,Ijaz Mansoor QURESHI,Fawad ZAMAN,Wasim KHAN 单位:中国工程院;浙江大学 出版:《Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering》2017年第02期 页数:12页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJZUS2017020060 DOC编号:DOCJZUS2017020069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文解决了从N个传感器组成的线性阵列中检测完全或部分缺陷传感器的问题。本文首先提出了一种线性阵列的对称结构,其次,基于结合差分进化的文化算法,建立了一种混合技术。对称结构具有两个优点:(1)不需要找到所有损坏的模式,仅需找到(N–1)/2个必需模式;(2)不需要扫描0°到180°区域,仅需扫描0°到90°区域。显然,这样可以减少计算的复杂度。通过Monte Carlo模拟对该方案性能进行了验证,并在计算时间和均方误差方面与现有方法进行了比较。

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