《半导体传感器和MEMS国际标准化进展》PDF+DOC
作者:李锟
单位:中国电子技术标准化研究所
出版:《信息技术与标准化》2017年第08期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZBZ2017080050
DOC编号:DOCDZBZ2017080059
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6月7~9日,IEC TC47/SC47E(半导体分立器件标准化分技术委员会)和IEC TC47/SC47F(MEMS标准化分技术委员会)工作组会议及MEMS标准研讨会在日本东京召开。共有来自中国、日本、韩国的37位专家参加。中国代表团由中国电子技术标准化研究院、中电13所、航天704所、中机生产力促进中心、北京大学、西安电子科技大学等单位的12名
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