作者：陈鹏程,仉君,袁秉凯,程志海,裘晓辉 单位：中国科学院;国家自然科学基金委员会 出版：《科学通报》2013年第24期 页数：7页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFKXTB2013240040 DOC编号：DOCKXTB2013240049 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 不同于扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope，STM)，原子力显微镜(atomic force microscope，AFM)主要通过探测针尖和样品间的相互作用力获得样品表面信息，不需要导电的样品，可以研究比STM更为广泛的样品体系，自发明以来迅速成为基础科学和应用研究领域中一种强有力的工具.近几年发展起来的基于qPlus技术的非接触式原子力显微镜(qPlus-noncontact AFM，qPlus-NC-AFM)，通过关键部件原子力传感器的改进，进一步拓展了原子力显微镜的探测能力，从而在许多研究方向上取得了重要突破.本文介绍了qPlus-AFM的基本工作原理及其在基础科学研究领域中的最新研究进展，并对其进一步的发展进行了展望。

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