作者:周真,李翰斌,齐佳,马德仲 单位:中国航空工业集团公司;北京长城计量测试技术研究所 出版:《计测技术》2017年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFHKJC2017010070 DOC编号:DOCHKJC2017010079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 传统的寿命试验对电子元件可靠性进行评估需较长时间。如何快速、准确获取电子元件的性能指标是工程实践和试验研究迫切需要解决的问题。本文以电阻型湿度传感器为研究对象,基于加速退化试验(ADT)的可靠性评估方法,建立加速模型和退化轨迹,结合最大似然估计和最小二乘法求解加速应力下伪失效寿命分布参数,从而得出正常应力水平下可靠度函数。结果表明,采用ADT能够准确获取湿度传感器的可靠性信息,缩短试验周期,此评估方法同样适用于其它电子元件的可靠性研究,存在广泛的应用价值。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。