作者:梁华国,汪静,黄正峰,李志杰,徐辉,李扬 单位:中国科学院广州电子技术研究所 出版:《电路与系统学报》2013年第01期 页数:7页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDLYX2013010380 DOC编号:DOCDLYX2013010389 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 随着工艺尺寸的缩减,老化导致的电路不稳定现象越来越严重。由于NBTI效应造成的老化是渐进的,因此老化是可预测的。由此提出了一种具有可配置延迟单元的老化预测电路,并将其中的稳定性校验器和锁存器的功能进行了整合。在老化的不同时期,针对老化程度,动态调节延迟单元的延迟大小,得到不同的保护带宽度,从而提高老化预测的准确率。并通过反馈电路达到对稳定性校验器的输出进行锁存的目的。与经典结构相比,电路在面积上平均节省20.6%左右,在功耗方面减少36%左右。Spice模拟器的仿真结果证实了电路的优越性。

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