作者：程晓舫,辛成运,王鲁平,张忠政 单位：中国物理学会 出版：《》 页数：6页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFWLXB2013120220 DOC编号：DOCWLXB2013120229 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《超高解像力数字摄影机》PDF+DOC1996年第07期 L.W.麦克唐纳,凌伟彬 《线性激光微位移非接触测量传感器》PDF+DOC1996年第S1期 姜晶,张国雄,庄葆华,庄在龙 《38万个像素的CCD图像传感器》PDF+DOC1986年第01期 徐振华 《CCD的发展现状及展望》PDF+DOC2005年第S1期 胡渝,荣健,胡渝 《银盐摄影和数码摄影讲座(1) 银盐摄影与数码摄影的特点》PDF+DOC2002年第08期 《可见光-近红外波段大气上行与下行辐射分量参数化方法》PDF+DOC2010年第04期 杨贵军,高中灵,黄文江,刘强,王纪华,张明月

    • 明确了辐射的非成像测量和成像测量之间的差异并给出数学表述，才能够把已经成熟的非成像辐射测量方法推广至成像测量.本文从辐射测量的基本公式以及成像下目标微元与传感阵列像素的对应关系出发，分别建立了关于辐射的非成像和成像测量式.根据成像面的存在不会改变辐射传输的事实，比较非成像测量式和成像测量式后，可得到成像效应的数学表述.把成像效应与针孔和透镜两种成像技术结合后的分析指出：成像效应的主因是成像光轴角，辅因是测量天顶角；辅因作用的大小取决于测量天顶角与发射天顶角的差异度。

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