作者:孙凤鸣,傅星,朱振宇,高赛,张超 单位:中国微米纳米技术学会;东南大学 出版:《传感技术学报》2013年第02期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGJS2013020290 DOC编号:DOCCGJS2013020299 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 对一种基于MEMS技术的探针进行开发,以实现微纳米尺度下的几何量测量。该探针是静电梳齿型结构,含有定齿和连接有主梁的动齿。主梁顶端的探针能够感知样品表面形貌而引起梳齿间位移,梳齿间位移能够带来梳齿间电容的变化。设计了测头的电容信号检测电路。搭建测试系统,利用该系统进行进针实验,标定测头的灵敏度为0.43 mV/nm,实验表明测头的非线性误差小于0.22%。利用该测头作为SPM测头,搭建小型SPM系统,对108 nm台阶高度的光栅结构进行了扫描。

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