作者：朱龙顺,章超 单位：重庆市人民政府科技顾问团 出版：《科学咨询(科技·管理)》2013年第08期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFKXZC2013080470 DOC编号：DOCKXZC2013080479 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 通过光电传感器检测绝缘子周围场强的分布，根据电场场强的变化来对劣化绝缘子的位置进行判断。分析了完好绝缘子周围场强的分布，以及劣化绝缘子周围场强的分布。试验结果表明，在绝缘子串中如果有低值或零值绝缘子时，绝缘子伞裙的电场强度会发生突变，可以通过利用光电传感器来检测其电场分布曲线来进行劣化绝缘子伞裙的位置判断。

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