作者：唐捷,蒋学军,陈智勇 单位：西安电瓷研究所 出版：《电瓷避雷器》2013年第06期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDCPQ2013060070 DOC编号：DOCDCPQ2013060079 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 提出了一种利用基于Pockels效应的光学电场传感器对绝缘子进行带电检测的方法。通过原理分析和实际试验进行了对比论证，验证了这种理论以及实施方式的正确、有效性。实验结果表明，在复合绝缘子高压端，低压端，以及中部的劣化，都能通过电场测量结果表现出来，可为电场法检测劣化绝缘子提供参考。也就是说，使用这种光学电场传感器检测绝缘子的方法结果是科学的、有效的，是解决现有绝缘子带电检测困难，特别是复合绝缘子带电检测手段的重要补充。

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