《高重频脉冲激光对CMOS相机饱和干扰效果研究》PDF+DOC
作者:邵铭,张雷雷,赵威,张乐
单位:重庆市光学机械研究所
出版:《激光杂志》2013年第06期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJGZZ2013060060
DOC编号:DOCJGZZ2013060069
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激光干扰是对抗成像观瞄设备和精确制导武器,保护己方目标的重要方式。为了评估激光对CMOS图像传感器的干扰效果,利用1.06μm高重频激光开展了对CMOS相机的饱和干扰实验研究,实验中计算了CMOS图像饱和激光功率密度阈值,并分析了CMOS相机干扰有效面积、饱和干扰面积、干扰前后图像相关度与激光入射功率之间的关系。实验结果表明,随着激光功率的增加,CMOS相机饱和像元数、干扰有效面积增加,图像质量下降,干扰效果明显提高。
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