《基于核主元分析的过程控制系统欺骗攻击》PDF+DOC
作者:陈冬青,彭勇,王华忠
单位:清华大学
出版:《清华大学学报(自然科学版)》2013年第12期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFQHXB2013120070
DOC编号:DOCQHXB2013120079
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针对过程控制系统的传感器信号欺骗攻击,提出了一种基于数据驱动的黑箱检测方法。首先以典型化工单元连续搅拌釜式反应器CSTR过程控制系统为对象,建立了其欺骗攻击模型;接着,开发了基于核主元分析传感器信号欺骗检测算法和在线实施步骤,最后针对CSTR控制系统的反应温度欺骗攻击检测进行了仿真研究,结果表明本文方法在攻击行为发生后能快速、准确地检测出攻击行为。
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