《基于热电偶动态校准系统的半导体激光器上升时间测试分析》PDF+DOC
作者:杨宇
单位:中国电子科技集团公司光电研究院
出版:《光电技术应用》2014年第02期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFGDYG2014020230
DOC编号:DOCGDYG2014020239
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介绍利用大功率半导体激光器作为温度发生装置,发出脉冲激光使被校准热电偶表面产生准阶跃温度变化的信号,用响应速度快的红外探测器和响应慢的被校准热电偶同时对此温度变化信号进行探测,最终以前者测得的值作为真值来校准后者的新的动态校准系统。为了能够测试响应速度快的热电偶,需要测试温度发生装置的响应时间,因此提出了选用响应速度快的光敏二极管作为光电探测器件,通过搭建测试电路,获得激光器上升时间的测试方法。并针对波长为980 nm的大功率半导体激光器进行测试,给出测试结果。试验表明,该半导体激光器的上升时间为纳秒级别,可以实现对时间常数为微秒级别热电偶的动态校准。
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