作者:张卫红,周静,郑玉浩,刘春光 单位:天华化工机械及自动化研究设计院 出版:《化工自动化及仪表》2014年第05期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFHGZD2014050180 DOC编号:DOCHGZD2014050189 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 通过实验对纳米线探测NH3时电导增大这一结论的适用条件进行了补充。研究了传感器响应与纳米线氧空穴掺杂浓度的关系。对比实验结果表明:在检测NH3气体时高掺杂的纳米线电导降低,低掺杂的纳米线电导增大。此外,还观察了纳米传感器暴露在高浓度NH3中产生的“门屏蔽效应”,这是由于NH3分子吸附在In2O3纳米线上成为电荷陷阱导致的。

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