作者：柯林佟,陈卫业,张洋,李荣生,沈义峰 单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 出版：《激光与光电子学进展》2014年第05期 页数：6页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFJGDJ2014050300 DOC编号：DOCJGDJ2014050309 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 通过研究波导两侧缺陷处的折射率对二维光子晶体波导透射光谱的影响，提出一种提高折射率传感器灵敏度的方案。计算结果表明光子透射带上边沿的偏移量与传感区折射率的大小存在一定关系，在相同的折射率变化量下通过改变波导两侧缺陷处圆孔的相关几何参数可极大提高光子透射带上边沿的偏移量，即提高折射率传感器的灵敏度。通过优化设计，传感器的灵敏度由折射率变化区间0.0~1.0的55 nm/RIU(RIU表示折射率单元)与1.1~2.0的36 nm/RIU分别提高到对应的405 nm/RIU以及222 nm/RIU。

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