作者：朱辰,李尧,王雄飞,张昆,熊文龙,张浩彬,张大勇,张利明 单位：华北光电技术研究所 出版：《激光与红外》2014年第04期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFJGHW2014040060 DOC编号：DOCJGHW2014040069 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 首先介绍了CMOS图像传感器工作的基本原理。以自研的超连续谱光源为干扰源搭建了实验装置，对CMOS器件在强光下的受干扰现象进行了实验研究。获得了不同功率密度水平下CMOS器件输出的光斑饱和图像。以入射到CMOS器件靶面的功率密度3.14&#215；10-3W/cm2为例，对得到的图像数据进行了分析，得到了干扰效果图和像元灰度表，并对产生的原因作出了分析。

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