作者：刘玉明,吴凡 单位：中国电子科技集团第四十四研究所 出版：《半导体光电》2015年第01期 页数：5页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFBDTG2015010220 DOC编号：DOCBDTG2015010229 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 简述了ANSYS有限元瞬态热分析方法的基本原理和步骤，推导了瞬态传导辐射微分方程，利用此有限元方法对基于有源像元传感器的探测芯片在轨运行期间温度场进行了计算，得出了详细的温度变化和分布云图情况，研究了不同辐射率的空间辐射对芯片温度分布的影响，比较了芯片在不同辐射率的空间辐射和无空间辐射时的温度分布情况，并绘制了最值温度节点的时间温度曲线，研究结果为相关芯片热设计提供了重要的理论依据。

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