作者:张宁,左佳 单位:中国电子学会 出版:《电子技术与软件工程》2015年第01期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZRU2015011180 DOC编号:DOCDZRU2015011189 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文主要对T-ID技术的工作原理及使用方法进行了阐述,指出了其在全机机构强度试验应变测量中的应用及优点。此外,本文还实现了T-ID芯片使用流程的制定,为T-ID技术的推广提供了依据。

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