《T-ID技术在应变测量中的应用方法》PDF+DOC
作者:张宁,左佳
单位:中国电子学会
出版:《电子技术与软件工程》2015年第01期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZRU2015011180
DOC编号:DOCDZRU2015011189
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本文主要对T-ID技术的工作原理及使用方法进行了阐述,指出了其在全机机构强度试验应变测量中的应用及优点。此外,本文还实现了T-ID芯片使用流程的制定,为T-ID技术的推广提供了依据。
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