作者: 单位:中国电子技术标准化研究所 出版:《信息技术与标准化》2014年第12期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZBZ2014120230 DOC编号:DOCDZBZ2014120239 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 11月5~12日,国际电工委接口标准、光纤传感器等热点专纤产品性能参数的测量方法和试员会纤维光学标准化技术委员会题进行了深度讨论,进一步明确验程序,持续推动我国纤维光学(IEC/TC86)年会在日本东京召开,了各分技术委员会及工作组的工技术标准的国际标准化进程。来自中国、美国、法国等10余个作重点和发展方向。我国专家现IEC/TC86下设光纤光缆国家的100余名纤维光学专家参加牵头开展了光纤衰减、数值孔径(SC86A)、纤维光学互连器件和无了此次会议。会议围绕部分光纤以及偏振模色散三项性能参数测源器件(SC86B)、纤维光学有源器性能参数的测量方法、光缆环境试方法标准的修订工作,这三项件和子系统(SC86C)三个分技术试验方法和产品规范、光连接器基础标准的修订将进一步完善光委员会。

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