作者：朱晨彬,姚丽芳,朱欣赟,陈宇 单位：上海市计量测试技术研究所;上海市计量测试学会;上海市计量协会 出版：《上海计量测试》2015年第01期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFSJLC2015010120 DOC编号：DOCSJLC2015010129 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 介绍的浅式微型温度校验炉其插入深度仅为45 mm，测温范围为50~300℃。通过ansys软件进行温场仿真，确定加热方式。该校验炉通过500 W的加热器与6根25 W加热棒相结合的方式，采用动态PID温控技术，有效地控制温度过冲现象。该装置升降温速度快，温度波动度小，均温快孔间误差小，满足现场校验短支温度传感器的要求。

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