《基于激光半导体技术的光纤点式测温系统》PDF+DOC
作者:田杰,余鹏,段绍辉,王同志,刘小燕
单位:重庆市光学机械研究所
出版:《激光杂志》2015年第01期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJGZZ2015010280
DOC编号:DOCJGZZ2015010289
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本文研究基于激光半导体技术的光纤点式测温系统。利用半导体材料随温度的变化,其折射率发生变化这一原理,成功地开发出了样机系统,并将该系统应用于高压开关柜内的电缆接头、动、静触点等易发热的接触点处的温度检测。该系统的探头部分采用全光设计,抗电磁干扰,耐高压;主机部分带有RS485接口,采用Modbus工业协议,方便多台主机进行组网。多次试验结果表明,该系统测温精度高,为±;1℃;测温范围为-10℃-120℃。
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