作者:田杰,余鹏,段绍辉,王同志,刘小燕 单位:重庆市光学机械研究所 出版:《激光杂志》2015年第01期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJGZZ2015010280 DOC编号:DOCJGZZ2015010289 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文研究基于激光半导体技术的光纤点式测温系统。利用半导体材料随温度的变化,其折射率发生变化这一原理,成功地开发出了样机系统,并将该系统应用于高压开关柜内的电缆接头、动、静触点等易发热的接触点处的温度检测。该系统的探头部分采用全光设计,抗电磁干扰,耐高压;主机部分带有RS485接口,采用Modbus工业协议,方便多台主机进行组网。多次试验结果表明,该系统测温精度高,为±1℃;测温范围为-10℃-120℃。

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