作者:朱平,杨卫 单位:中国电子科技集团公司第十三研究所 出版:《微纳电子技术》2006年第12期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTQ2006120090 DOC编号:DOCBDTQ2006120099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 根据分形几何理论,用W-M函数表征压阻式加速度传感器固支梁的表面形貌,并且提出把分形参数D与传统统计参数Ra结合起来共同评定微观形貌质量。利用MSA-400-TPM2型白光干涉仪对其进行测量,通过实验验证。

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