作者:杨莺,朱大中 单位:中国微米纳米技术学会;东南大学 出版:《传感技术学报》2006年第04期 页数:7页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGJS2006040380 DOC编号:DOCCGJS2006040389 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 用P矩阵方法分析带变迹叉指换能器(IDT)和倾斜金属反射栅的高Q值Y型声表面波(SAW)质量沉积传感器的通带纹波,并分别在振荡和非振荡模式下比较了这些传感器的通带纹波和Q值。分析了获得高Q值的原因。理论和实验结果表明:均匀孔径无反射栅的传感器旁瓣抑制为10dB,振荡模式下其Q值为5289;通过孔径变迹设计,传感器的旁瓣抑制和Q值分别改善到25dB和8689;而对孔径变迹并加入倾斜反射栅的传感器,这两个参数提高到25dB和12477。非振荡模式下带反射栅的传感器比没有反射栅器件的通带纹波约低2dB。因此,变迹IDT和金属反射栅的应用是SAW质量传感器Q值的改善的两个重要因素。由于Q值改善,质量沉积灵敏度达到5.24GHz.cm2/g

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