作者:邱士安 单位:中国西南电子技术研究所 出版:《电讯技术》2006年第04期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDATE2006040180 DOC编号:DOCDATE2006040189 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 探讨了环型结构磁器件的磁场分布与器件的结构形状的关系,分析了理想霍尔传感器探头和有位置误差的实际霍尔传感器探头在环型结构磁器件磁场分布测试中对测试精度的影响。

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