《基于D-S融合的电子电路故障诊断研究》PDF+DOC
作者:李端,余发山
单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所
出版:《传感器与微系统》2006年第09期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGQJ2006090050
DOC编号:DOCCGQJ2006090059
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根据电子电路故障元件诊断的不确定性问题,给出了多传感器D-S信息融合实现电路故障诊断的方法。通过检测电路工作时电子元件的温度和关键点电压两方面数据信息,得出两传感器对各待诊断元件的信度函数分配。再利用D-S联合规则结合模糊逻辑理论,得到融合后的信度函数分配,从而确定故障元件。实验结果说明:多传感器融合算法具有较高的准确率。
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