作者:刘艳妮,李大心 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2006年第01期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2006010020 DOC编号:DOCCGQJ2006010029 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介绍了均匀介质中环形电容器的推导公式,分析其测厚范围,绘制理论曲线;并利用它对非金属介质的厚度进行检测,绘制实验曲线;将理论与实验曲线进行比较,得知用该方法检测非金属的厚度具有可行性,其测量的厚度范围为0~20 cm,测量精度为2.5mm。

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