作者:赵志洋,李超,王冬蕾,刘洋 单位:中国仪器仪表学会试验机分会;长春试验机研究所 出版:《工程与试验》2007年第03期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSNSN2007030220 DOC编号:DOCSNSN2007030229 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介绍一种基于AVR ATmegat系列单片机的纸张抗张强度试验装置,其拉伸控制单元采用以模糊PID控制算法为策略的PMW直流电机调速系统,获得较好的动态性能和控制效果。张力值检测采用具有自动换档功能的多级放大电路,提高了检测精度。该试验机整体性能良好稳定,市场前景广阔。

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