《德国E+H MX2012 Automatic Wafer Stress Gauge》PDF+DOC
作者:
单位:中国电子科技集团第四十五研究所
出版:《电子工业专用设备》2007年第03期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDGZS2007030280
DOC编号:DOCDGZS2007030289
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德国的E+H公司(Eichhorn+Hausmann)为一世界级的专业半导体量测仪器设备制造商,以其30年的经验与独特的专业技术,致力于各种高精密性非接触式硅片测厚仪器的研发与制造。E+H之量测仪使用多点电容非接触式传感器,可量测硅片的翘曲度及薄膜应力(Stress),并同时提供硅片的Thick-
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