作者:龙勇,于明晓,石自彬,丁雨憧,王佳,徐扬,付昌禄 单位:中国电子科技集团公司第二十六研究所 出版:《压电与声光》2018年第02期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYDSG2018020080 DOC编号:DOCYDSG2018020089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 采用中频感应上称重提拉技术对Ca_2Al_2SiO_7(CAS)压电晶体进行了生长,研究了不同转速及生长方向下晶体的生长习性,从理论上分析了转速和生长方向对晶体形貌的影响。结果表明,晶体外形随转速的增加,其形貌由圆柱状变为正方形,再变为长方形,当转速到一定临界值时,晶体呈多晶状;随晶体生长方向的不同,晶体有不同的显露方向,并都有强的显露面(001)。对晶体不同显露方向进行了X线衍射分析,且对(001)面进行回摆测试。结果表明,晶体结构完整,结晶性能好。

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