作者：朱均超,刘铁根,王双 单位：天津理工大学 出版：《光电子·激光》2007年第09期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGDZJ2007090070 DOC编号：DOCGDZJ2007090079 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 提出了一种接触式图像传感器(CIS)非均匀性的校正方法，能够快速高效地对CIS图像的非均匀性进行校正，消除其不一致性，提高了图像质量。该方法采用改进的分区两点法进行校正，分为标定和校正2个过程。标定过程获取CIS中各个光敏单元的校正系数和灰度偏移量，校正过程利用标定值对CIS的输出进行校正和补偿，最终得到均匀的CIS图像。校正过程利用现场可编程门阵列(FPGA)实现，在图像传输的过程中同时进行，每次采集的校正延时不到0.5μs，具有极强的实时性。

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