作者:刘红光,张卫民,袁俊杰,王朝霞 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2007年第05期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2007050210 DOC编号:DOCCGQJ2007050219 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 以HMC—1022磁敏元件为基础,开发了二维弱磁检测仪器,利用自行设计的简易标定系统,测定了主要技术指标。选用拉伸后的A3钢试件进行检测,将结果和俄罗斯的TSC—1M—4型磁记忆检测仪检测结果进行了对比,二者的曲线变化规律基本相同。用Matlab软件画出检测结果立体图,在图形中可以准确地找到已知缺陷的位置。

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