《基于最大后验概率的K/N规则研究》PDF+DOC
作者:胡学海,王厚军,古天祥
单位:中国电子学会
出版:《电子测量与仪器学报》2007年第05期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZIY2007050080
DOC编号:DOCDZIY2007050089
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现有K/N规则大都未考虑判决代价,未提供一般式,且从数学意义上不符合假设检验的最优准则。本文基于最大后验概率准则,使用贝叶斯理论,考虑判决代价,推导出K/N融合规则的一般式。数值试验结果表明本文的算法较同类算法性能更佳,适用性更广。同时本文还研究了漏检率,误检率之间的关系和组成传感器的选择规则。
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