作者：蔡荣太,王延杰 单位：中国电子科技集团第四十四研究所 出版：《半导体光电》2007年第05期 页数：6页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFBDTG2007050030 DOC编号：DOCBDTG2007050039 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 系统地介绍了CCD成像传感器降噪技术的研究进展。重点介绍和分析了CCD复位噪声降噪技术和非均匀性校正技术的研究进展。特别介绍了用于克服CCD复位噪声的数字域加权双斜积分技术、基于场景的非均匀性校正技术以及多CCD成像系统的非均匀性校正技术。最后展望并讨论了CCD成像传感器降噪技术的发展趋势。

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