《单片集成微传感器中多层耐熔金属硅化物互连》PDF+DOC
作者:胡滨,阮爱武,李平,翟亚红,蔡道林
单位:上海交通大学
出版:《上海交通大学学报》2007年第S2期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFSHJT2007S20090
DOC编号:DOCSHJT2007S20099
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在微传感器系统中,采用多层耐熔金属硅化物互连工艺,克服微传感器与IC芯片单片集成时,铝连线不能承受微传感器制造过程中要求的退火高温,而且此互连结构能在标准CMOS工艺线上加工,降低了制造成本.经流片验证,此互连结构具有台阶覆盖能力强、热稳定性好、电阻率较低、易于干法刻蚀等特点,能满足大规模IC多层互连线要求.由它构成的大规模数模混合集成电路,在退火条件分别为500°;C5、h,600°;C、30 min,650°;C5、min的实验后仍保持性能.以上退火条件符合基于铁电薄膜的微传感器系统单片集成的要求。
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