作者:吴虹,李延夫 单位:中国电子科技集团公司第十三研究所 出版:《微纳电子技术》2007年第Z1期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTQ2007Z10900 DOC编号:DOCBDTQ2007Z10909 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《可靠性强化试验在硅压力传感器上的应用》PDF+DOC2010年第08期 石安利,秦丽,夏文达,刘广泉,周鹏斌 《可靠性强化振动试验方法及设计改进》PDF+DOC2012年第12期 郑浩,李延夫,孙礼,杜健 《基于可靠性强化试验的硅基压力传感器设计改进》PDF+DOC2011年第12期 郑浩,李延夫,孙礼,杜健 《硅压力传感器的可靠性强化试验》PDF+DOC2011年第07期 于丽娜,秦丽,张会新 《基于故障树分析的薄膜压力传感器可靠性》PDF+DOC2020年第07期 范迎新,何峰,蓝镇立 《硅压力传感器研究现状》PDF+DOC1999年第06期 王丰 《传感器可靠性筛选方法的研究》PDF+DOC1996年第11期 李季,关艳霞 《高可靠SOS固态压力传感器》PDF+DOC1990年第04期 陈庆贵,史日华,滕征杰,许和平 《压力传感器可靠性试验仪的研制》PDF+DOC1991年第01期 晋琦,王言,李长春,何治平 《某型滑油压力传感器可靠性强化试验方案设计》PDF+DOC2011年第11期 张俊,姚军
  • 为实现硅压力传感器的快速评价和快速提高传感器可靠性的目标,综合分析了国际上先进的可靠性强化试验理论与技术,并应用失效物理学原理,对硅压力传感器可靠性强化试验技术剖面进行了研究性评述。

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