《硅压力传感器可靠性强化试验研究》PDF+DOC
作者:吴虹,李延夫
单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
出版:《微纳电子技术》2007年第Z1期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFBDTQ2007Z10900
DOC编号:DOCBDTQ2007Z10909
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为实现硅压力传感器的快速评价和快速提高传感器可靠性的目标,综合分析了国际上先进的可靠性强化试验理论与技术,并应用失效物理学原理,对硅压力传感器可靠性强化试验技术剖面进行了研究性评述。
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