作者:石磊,吴武臣 单位:安阳工学院 出版:《安阳工学院学报》2007年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFAYXB2007010070 DOC编号:DOCAYXB2007010079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 目前在科技研究,工业生产等各行业中,对于位移角度的高精度测量都是不可或缺的。利用光栅传感器完成测量是目前的主要方法。光栅传感器利用光电转换的原理将位移、角度等几何量转换为电信号,该信号经过整形、细分后输出给后级电路完成对信号的处理,最后得到位移、角度的大小方向。本文在分析光栅传感器工作原理的基础上,提出借助CMOS图像传感器代替传统的硅光电池检测莫尔条纹,完成信号的细分,实现对位移角度的高精度测量。

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