《退火处理对Ti-WO_3薄膜的结构和气敏特性的影响》PDF+DOC
作者:张召涛,杨晓红,马勇,孙彩芹,闫勇彦,朱绍平
单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所
出版:《传感器与微系统》2008年第08期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGQJ2008080150
DOC编号:DOCCGQJ2008080159
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用X射线衍射和透射电镜表征了直流磁控溅射法制得的Ti-WO3薄膜的晶型、晶格常数、粒径等。研究了退火对Ti-WO3薄膜气敏性质和微结构的影响,找出了最佳退火温度和工作温度;并对机理进行了分析。结果表明:450℃退火的薄膜的气敏效应很好,最佳工作温度在150℃左右;
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