作者:刘书萌,冯国兵,王龙,陈俊凯 单位:华北计算机系统工程研究所(中国电子信息产业集团有限公司第六研究所) 出版:《信息技术与网络安全》2018年第06期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFWXJY2018060250 DOC编号:DOCWXJY2018060259 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 芯片封装与测试工艺中,需对芯片电容进行测量完成合格性筛选,国内厂家目前多采用人工测试或购买国外的昂贵的电容测试设备。从应用角度出发,设计了批量自动化电容测量设备。该设备采用多路位置传感器与步进电机组成闭环控制系统,并加入安全控制与告警机制。试验表明该系统可实现芯片卷带自动、安全、可靠测试。

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