作者:陈伟平,马铁华,裴东兴 单位:哈尔滨工程大学 出版:《应用科技》2008年第03期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYYKJ2008030040 DOC编号:DOCYYKJ2008030049 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介绍了一种由传感器、A/D变换器、超大容量闪存、Msp430单片机和电平转换电路组成的微型超大容量存储测试系统设计方法.传感器信号通过Msp430单片机控制ADC芯片MAX152进行模拟—数字转换并放入总线中,同时将该数据分时存入到闪存中,最后通过计算机和Visual Basic语言编写的软件将闪存中的数据读取到计算机中,同时将闪存中的数据擦除,以便进行下一次存储等。

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