《探头线圈扫查方式对涡流检测性能的影响》PDF+DOC
作者:姚运萍,韩捷,廖述圣
单位:中国机械工业联合会科技工作部;机械与电子杂志社
出版:《机械与电子》2008年第11期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJXYD2008110190
DOC编号:DOCJXYD2008110199
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通过对光滑平板试块上涡流线圈沿不同放置、扫查方向以及初始位置的缺陷信号的分析,包括幅值和相位规律,归纳出各个变量对结果的影响,从而在实际检测过程中提高了检测的效果与精度。
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