《半导体激光器干扰CCD传感器实验研究》PDF+DOC
作者:赵帅
单位:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
出版:《光机电信息》2008年第12期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFGJDX2008120030
DOC编号:DOCGJDX2008120039
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为拓展半导体激光器的应用,开展了半导体激光器对可见光CCD传感器的干扰实验研究,得出CCD饱和像素个数与激光输出功率和CCD传感器电子快门时间的对应关系。当电子快门时间分别为t=1/10000s、t=1/4000s和t=1/2000s时,CCD的饱和阈值分别为1W、1W和2.8W。“软损伤”的阈值为10W,然而,在激光输出最大功率为22.4W的条件下并没有使CCD损伤。
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