作者:刘丰,姚素英,史再峰 单位:天津理工大学 出版:《光电子·激光》2008年第10期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGDZJ2008100090 DOC编号:DOCGDZJ2008100099 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 提出了CMOS图像传感器中RSD A/D转换器的设计方法。基于冗余符号数(RSD)算法,RSD A/D转换器降低了对比较器的性能要求。并且全差分的模拟信号处理用以改进抗噪声度,信噪比和系统的动态范围。RSD A/D转换器是基于90 nm CMOS工艺实现的,测试结果表明它的微分非线性误差(DNL)为±1 LSB,积分非线性误差(INL)为±1.5 LSB,总的未调整误差(TUE)为-3 LSB~1 LSB,功耗约为20 mW。

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