作者:蒋家云,富宝龙 单位:北京信息科技大学 出版:《传感器世界》2008年第03期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGSJ2008030120 DOC编号:DOCCGSJ2008030129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 基于MEMS技术研制的微电容传感器,其有效电容的实际变化量仅为飞法级。实验表明,二元调宽式信号拾取专用集成电路BH5001为检测微电容变化量建立了一个高信噪比的平台,结合优良的巴特沃斯低通滤波器和高品质的差动放大器,即可完成微电容的检测。

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