作者:孙强,石天明,刘景,徐玉峰,樊娜 单位:重庆市自动化与仪器仪表学会;重庆工业自动化仪表研究所 出版:《自动化与仪器仪表》2008年第06期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFZDYY2008060300 DOC编号:DOCZDYY2008060309 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 设计一种便于分析径向屏蔽结构影响的有限元分析模型,全面分析了电容层析成像(Electrical Capaci-tance Tomography)系统中阵列传感器结构参数对系统性能的影响。在定量分析的基础上合理解释并提出定性的分析结果,为全面认识传感器结构对敏感场分布的影响以及传感器的设计提供依据。有利于深入了解敏感场分布,优化传感器以改善传感器性能。

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