作者:高编 单位:中国科学院上海技术物理研究所 出版:《红外》2008年第07期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFHWAI2008070060 DOC编号:DOCHWAI2008070069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 美国专利US7361528 (2008年4月22日授权)锗具有较高的红外吸收系数,不过,当通过将锗直接沉积在硅上的办法制作锗光电探测器时,由于锗与硅的晶格失配率为4%,光电探测器会具有较大的暗电流.为了解决这个问题,最近几年人们做了大量工作.本发明提供一种用以制作供CMOS成像仪用的锗红外传感器的方法,该方法包括以下几个步骤:对一块硅片进行离子注入,形成一层P~+硅层;在该P~+硅层

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