作者:焦竹青,徐保国 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2008年第10期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2008100100 DOC编号:DOCCGQJ2008100109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 针对电子电路的故障诊断问题,提出一种基于Bayes决策理论的多传感器数据融合解决方法。通过测试电路中被诊断元件温度和节点电压2个物理量,得出Bayes理论中不同传感器对各待诊元件的先验概率,在此基础上,利用Bayes条件概率公式进行两级数据融合,得到各元件关于故障类型的目标概率值,进而根据最大概率值确定故障元件。Bayes多传感器数据融合诊断与单传感器诊断方式相比,大大提高了故障识别准确率,并降低了故障元件不确定的概率。实验结果证明:该方案是一种有效的电路故障诊断方法。

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