《用于测量Z箍缩铝等离子体K层辐射的邻苯二甲酸氢铊弯晶摄谱仪》PDF+DOC
作者:吴刚,邱爱慈,吕敏,黑东炜,盛亮,魏福利,蒯斌,王亮平,丛培天,雷天时,韩娟娟,孙铁平
单位:中国工程物理研究院;中国核学会;四川省核学会
出版:《强激光与粒子束》2009年第07期
页数:6页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFQJGY2009070330
DOC编号:DOCQJGY2009070339
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《Z箍缩等离子体高分辨X辐射谱诊断》PDF+DOC2009年第02期 叶凡,李正宏,薛飞彪,秦义,徐荣昆,金永杰
《化探样品痕量元素的端视电感耦合等离子体光谱分析》PDF+DOC1987年第04期 卜国光
《激光等离子体光谱学》PDF+DOC1989年第02期 王永昌,袁相津
《Z箍缩丝阵负载微型装配系统》PDF+DOC2009年第09期 蔡红梅,吴卫东,张林,李腾,周秀文,余斌,杨波,刘旭东,刘延杰
基于邻苯二甲酸氢铊(TAP)弯晶和软X射线分幅相机建立了一套4通道的时空分辨弯晶摄谱仪,测谱范围1 500~2 300 eV,时间分辨约2 ns。分析了谱仪各环节的信号传递和转换过程对系统谱响应的影响。利用该谱仪在“强光一号”加速器(约1.5 MA,80~100 ns)Al丝阵Z箍缩实验中获得了时间分辨及时间积分的Al等离子体K层辐射谱,记录到了类H、类He离子主要共振线及类Li、类He离子双电子复合伴线。将摄谱结果与分能区X射线图像进行了比较。时间分辨的发射谱相对强度与积分结果有明显不同,反映了等离子体在5~10 ns时间尺度上的电子温度和离子布居变化。
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