作者:刘靖,刘石,姜凡,雷兢,孙猛 单位:中国科学技术信息研究所 出版:《高技术通讯》2008年第01期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGJSX2008010130 DOC编号:DOCGJSX2008010139 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 提出了一种非闭合电极电容层析成像(ECT)传感器结构参数的优化方法。采用均匀设计结合非线性偏最小二乘(NPLS)回归,提取传感器结构参数(电极极板的宽度 l、绝缘外壳的壁厚δ_1、屏蔽罩与绝缘外壳间距δ_2及绝缘外壳材料的相对介电常数ε)与待优化指标(敏感场的均匀度及灵敏度指标 p′、最大与最小电容的比值 K)间的函数关系,建立相应的优化目标泛函,通过对优化目标泛函的求解,最终获得传感器结构参数的最优值。并以10电极非闭合电极 ECT 传感器为研究对象,进行了结构参数的优化设计,根据优化结果设计制作了非闭合电极 ECT 传感器,对其成像进行了仿真与实测。结果表明,参数优化后的传感器图像重建质量优于未优化的传感器。

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