作者：徐小良,何春,贾宇明,刘辉华 单位：陕西电子杂志社;陕西省电子技术研究所 出版：《》 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFXDDJ2009090110 DOC编号：DOCXDDJ2009090119 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 针对一款雷达芯片电路采用基于扫描路径法的可测性设计，在设计过程中采用时钟复用技术I、P隔离技术，以及针对具体的时钟产生电路采用了其他特殊处理技术；通过采用多种恰当有效的可测性设计策略后，大大提高了该芯片电路可测性设计的故障覆盖率，最终其测试覆盖率可达到97%，完全满足设计指标的要求。

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