作者:滕茂慧,秦雪,李振仁 单位:工业和信息化部电子第五研究所 出版:《电子产品可靠性与环境试验》2009年第04期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZKH2009040050 DOC编号:DOCDZKH2009040059 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 依据镶嵌式铂热敏电阻Pt1000企业标准及国军标,进行了环境试验,并采用经典法、信赖法和贝叶斯方法,对镶嵌式铂热敏电阻Pt1000进行了环境可靠度评估,推断出热敏电阻环境可靠度。利用环境试验所暴露的问题,指出该热敏电阻高温环境可靠度较低,为进一步改进工艺,提高产品质量提供了依据。同时,进行了产品的失效分析,总结出敏感铂膜高温性能变化是导致热敏电阻失效的主要因素。

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